Ibáñez, M., Boehme, S. C., Buonsanti, R., De Roo, J.,
Milliron, D. J., Ithurria, S., Rogach, A. L., Cabot, A., Yarema,
M., Cossairt, B. M., Reiss, P., Talapin, D. V.,
Protesescu, L., Hens, Z., Infante, I., Bodnarchuk, M. I., Ye, X., Wang, Y., Zhang, H. & Lhuillier, E.,
Klimov,
V. I., Utzat, H., Rainò, G., Kagan, C. R., Cargnello, M., Son,
J. S. & Kovalenko, M. V.,
16-sep.-2025,
In:
Acs Nano. 19,
36,
blz.
31969-32051 83 blz.
Onderzoeksoutput
› peer review
