M. Kot, MSc

Zhou, S., Rehm, V., Grizfeld, R., Liu, Z., Han, Y., Hrbek, T., Matolínová, I., Korczak, J., Szczerbakow, A., Story, T., Kot, M., Loi, M. A., Peng, Z., Sotome, M., Kondo, T., Forberich, K., Lüer, L., Brabec, C. J., Mergheim, J. & Heiss, W., 9-jan-2026, In: Advanced optical materials. 14, 1, 15 blz., e03210.

Onderzoeksoutput › › peer review

Li, J., Kot, M., Cielica, N., Pinna, J., Chen, L., Modena, F., Lutsen, L., Van Gompel, W. T. M. & Loi, M. A., 2-mrt-2026, In: ACS Materials Letters. 8, 3, blz. 772-779 8 blz.

Onderzoeksoutput › › peer review

Wang, H., Li, J., Pinna, J., Kot, M. & Loi, M. A., 12-mrt-2026, In: Advanced materials. 38, 15, 9 blz., e18118.

Onderzoeksoutput › › peer review

Wang, H., Pinna, J., Romero, D. G., Di Mario, L., Koushki, R. M., Kot, M., Portale, G. & Loi, M. A., 9-mei-2024, In: Advanced materials. 36, 19, 11 blz., 2311526.

Onderzoeksoutput › › peer review

Garcia-Orrit, S., Vega-Mayoral, V., Chen, Q., Serra, G., Guizzardi, M., Romano, V., Dal Conte, S., Cerullo, G., Di Mario, L., Kot, M., Loi, M. A., Narita, A., Müllen, K., Tommasini, M. & Cabanillas-González, J., 7-okt-2024, In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY LETTERS. 15, 41, blz. 10366-10374 9 blz.

Onderzoeksoutput › › peer review

Kot, M. (Uitvinder) & Lamhot, Y. (Uitvinder), 17-aug-2023, Octrooi Nr. US20230259041, 9-feb-2023, Prioriteitsdatum 17-feb-2022

Onderzoeksoutput: Patent

Kot, M. & Lamhot, Y., 27-apr-2023, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII: Proceedings. Robinson, J. C. & Sendelbach, M. J. (reds.). 3A uitgave Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), (Proceedings of the Society of Photo-optical Instrumentation Engineers; vol. 12496).

Onderzoeksoutput ›

Burmistrov, I. S., Goldstein, M., Kot, M., Kurilovich, V. D. & Kurilovich, P. D., 9-jul-2019, In: Physical Review Letters. 123, 2, 7 blz., 026804.

Onderzoeksoutput › › peer review